利用热环路元器件滤除降压变换器设计中的高频干扰
简介
现代降压变换器的效率越来越高,但在数百 MHz 的频率范围内,也可能产生更强的高频干扰。新型 IC 设计和合理的 PCB 布局已经能够有效抑制这类干扰;如果在此基础上加入高频铁氧体磁珠,将更进一步地滤除高频干扰。
本文将通过汽车电子专家进行的实际示波器测量,展示铁氧体磁珠的滤波效果。在 PCB 上布置铁氧体磁珠可滤除大部分的高频干扰,避免干扰通过线束向外辐射。这将帮助设计师优化 EMC 滤波器设计和 PCB 布局,从而满足 CISPR 25 Class 5 标准。
采用对称 VIN 引脚布局的汽车级降压变换器
对称 VIN 引脚布局通过对热环路 MLCC(C1、C2、C3 和 C4)的对称布置来满足 CISPR 25 Class 5 标准的更高要求。来自VEMI滤波器的电流沿相同方向对称分流后进入 IC,可以使两条 VIN 走线之间产生的磁场相互抵消。这样既可降低向周围环境辐射的总磁场,也有利于热环路元器件的合理布置(见图 1)。
图 1:通过矢量补偿降低磁场
MPQ4324-AEC1 是MPS的系列同步降压开关变换器。其开关频率可配置(350kHz 至 2.5MHz),采用对称 VIN 引脚布局,同时集成了内部上管和下管功率 MOSFET(分别为 HS-FET 和 LS-FET)。该系列器件采用峰值电流模式控制,可提供 0.5A 至 3A 的连续输出电流(IOUT),以及高达 4A的高效率峰值IOUT。MPQ4324-AEC1 提供三种封装版本,每种封装均设有两个 VIN 热环路引脚和两个 PGND 热环路引脚,以有效降低 EMI。
MPS其他采用对称 VIN 引脚布局的汽车降压变换器还包括MPQ4334-AEC1, MPQ4326B-AEC1, MPQ4371-AEC1, and MPQ4385-AEC1,覆盖 0.5A 至 25A 的宽电流范围。这些器件还通过优化 MOSFET 控制,使开关节点信号具有更低的振铃。
MPQ4324-AEC1的开关节点和热环路测量
图 2 所示为一块 4 层 PCB,通过同轴电缆连接 1GHz 带宽的电源轨探头来测量瞬态电压波形。开关节点和热环路中的高频电压波形决定了降压变换器的 EMC 特性。直接在元器件上测量小幅度的高频电压时,建议使用电源轨探头;屏蔽同轴连接可最大限度降低耦合干扰;采用 0402 元器件也可进一步减小电路板尺寸。
图2:配备电源轨探头连接器(位于热环路 MLCC 处)的MPQ4324-AEC1 PCB
开关电感、热环路和铁氧体磁珠等元器件布局
图3展示了开关电感 (L1)、四个热环路(C1、C2、C3 和 C4)、低通铁氧体磁珠(L3 和 L4)以及低通多层陶瓷电容(C15 和 C16)的布局。这种对称布局有助于系统满足 CISPR 25 Class 5 等严格的汽车 EMC 规范。四个热环路具有较高的 di/dt,因此必须尽可能减小其中的寄生电感,以降低振铃幅度(见图 4、图 5 和图 6)。
图3:SW节点和热环路的元器件布局
表 1 列出了开关频率(fSW)为 2.2MHz 的设计中,SW 节点和热环路所采用的元器件。
表 1:2.2MHzfSW设计中的元器件选型
| 参考标号 | 参数值 | 建议 |
|---|---|---|
| L1 | 1.8µH, RDC = 12.6mΩ, IRMS = 7.2A, 4mmx4mmx2.5mm |
|
| C2, C4, C15, C16 | 100nF, 50V, 0402 |
|
| C1, C3 | 4.7µF, 50V, 1206 | 将C1和C3靠近C2和C4放置,并在所选 SMT 封装尺寸下尽可能采用最大电容值。 |
| L3, L4 | 0402, 0.5 x IOUT | 选择在图 5 所测振铃频率处具有最高阻抗的铁氧体磁珠。 |
开关电感 (L1) 测量
图 4 所示为使用 10:1 无源探头测得的 SW 节点波形,探头尖端带宽为 1GHz。SW 引脚上的开关节点电压上升时间和下降时间均约为 1ns。凭借如此快速的开关沿,MPQ4324-AEC1 的效率可高达 97%。
图 4:使用 10:1 无源探头测量 MPQ4324-AEC1 的 SW 节点波形
656MHz 的振铃频率是热环路中的寄生串联电感、热环路 MLCC,以及 MOSFET 的尺寸及封装共同作用的结果。通常,标称电流越高的降压变换器,其振铃频率越低,反之亦然。相比之下,MPQ4371-AEC1 系列提供标称电流 6A 至 11A 的可调版本,其振铃频率约为 270MHz。在 VEMI滤波器设计中,铁氧体磁珠更适合滤除较高频率的干扰,而功率电感更适合覆盖较低频率范围。
热环路多层陶瓷电容 (MLCC) 测量
100nF 热环路 MLCC (C2)
图 5 显示了 PCB 上的 656MHz 振铃,以及在 100nF 热环路多层陶瓷电容 (C2) 两端测得的300mV振铃峰峰值。PCB 布线必须确保该振铃频率不会通过未屏蔽的 PCB 天线结构向外辐射,例如走线、过孔、铜皮和元器件。EMI 电压 (VEMI)滤波器可防止矩形 SW 节点波形的频谱及振铃频率辐射到线束中。
图 5:MPQ4324-AEC1 的 100nF 热环路 MLCC (C2) 电源轨探头测量
4.7µF 热环路 MLCC (C3)
图 6 展示了在 4.7µF 热环路多层陶瓷电容 (C3) 上测得的 656MHz 振铃以及 72mV振铃峰峰值。尽管 C2 和 C3 位于同一 VIN 网络上,但 C3 处的振铃幅度明显更低。在 656MHz 下,C2 与 C3 之间的走线对由 C3 构成的低通滤波器表现为串联感性阻抗,通过产生压降,振铃幅度得以降低。这说明,合理布置的走线可以形成所需的低通滤波效果,将振铃峰峰值从 300mV 降低至 72mV,从而降低整体辐射发射。
图 6:MPQ4324-AEC1 的 4.7µF 热环路 MLCC (C3) 电源轨探头测量
100nF 热环路 MLCC (C15)
图 7 展示了在 100nF 热环路多层陶瓷电容 (C15) 处测得的铁氧体磁珠 (L4) 低通滤波器输出。该滤波器可将 656MHz 振铃衰减至对 EMC 而言可忽略的水平,并滤除 C15 上的高频分量。这样, VEMI滤波器的走线、过孔和元器件以及线束中都不会再出现 656MHz 及相近频率的辐射发射。
图 7:MPQ4324-AEC1 的 100nF 热环路 MLCC (C15) 电源轨探头测量
EMI电压滤波器的重要性
VEMI滤波器是一种两级低通滤波器。其中,MLCC 与铁氧体磁珠共同衰减数百 MHz 范围内的较高频率分量;功率电感 (L2)(见图 2)与 MLCC 则共同衰减较低频率分量。对于降压变换器而言,包含功率电感的滤波级尤为重要,因为功率电感是满足CISPR 25 Class 5 要求的决定因素。
在某些应用中,尤其是振铃频率较低(约低于 300MHz)时,无需配置铁氧体磁珠。但如果VEMI滤波器中没有串联阻抗,如功率电感和/或铁氧体磁珠,通常都难以充分满足 CISPR 25 Class 5 的要求。具体应用所需的VEMI滤波器配置建议通常都可在相应产品的数据手册中找到。
铁氧体磁珠布局
铁氧体磁珠在 PCB 上主要有以下三种布局方式:
可将两个铁氧体磁珠(例如图 3 中的 L3 和 L4)直接放置在热环路旁,并将 VIN 电流分流。这样可使每个磁珠中的电流减半,从而允许采用更小的封装,不过两个小型磁珠的成本可能高于一个较大封装的单磁珠方案。这种布局的优势是可直接在热环路处滤除高频分量,防止其继续传播到 PCB 的其他区域。
可将单个铁氧体磁珠放置在VEMI滤波电感的右侧(如图 2 中的 L2),这样可以阻止振铃频率传播至该电感,避免VEMI滤波电感成为辐射源,或在振铃频率激励下发生振荡。走线和元器件的寄生电感与寄生电容可能构成 LC 振荡器,并受到振铃频率和fSW谐波的激励。由此产生的振荡可能进一步增大幅度,并在 VEMI 滤波器的固有谐振频率处形成影响 EMC 的辐射,尤其是在未屏蔽走线充当天线的情况下。在 IC 的 VIN 引脚与VEMI滤波器之间加入铁氧体磁珠,可以对这种效应进行阻尼。
还可以将单个铁氧体磁珠滤波器放置在功率电感左侧,这样有助于降低 VIN 浪涌电流。更多详情请参阅 MPQ4324-AEC1 数据手册中带VEMI滤波器的典型应用电路。VEMI滤波电感两端连接两个 2.2µF MLCC,可能会在 MLCC 中产生较大的浪涌电流。
如果将铁氧体磁珠滤波器布置在电源输入侧,则通常只需要对较小的 MLCC(例如 1nF 至 10nF)进行瞬态充电,同时铁氧体磁珠还能减小两个大型 2.2µF MLCC 上的瞬态电流。这些MLCC与VEMI滤波电感共同构成了低通滤波器。这种 PCB 布局还可对泄漏到线束中的高频分量进行最后一级滤波。这也是最常用的一种布局方式。
结论
本文介绍了如何利用高频铁氧体磁珠滤除大部分高频干扰,从而优化 EMC 滤波器设计和 PCB 布局。对于热环路设计,建议对称布置多层陶瓷电容、走线和过孔。此外还可考虑:选择在振铃频率处阻抗最高的铁氧体磁珠;在所选 SMT 封装尺寸下尽可能采用大电容值;并始终采用具有串联阻抗的VEMI滤波器。产品数据手册中通常会提供典型应用电路和经过 EMC 测试的布局。通常建议在项目早期即开展 EMC 测试,以尽量降低后期更改设计增加的成本。
如需了解更多信息,请浏览 MPS 丰富的开关变换器和控制器产品组合,这些器件均符合AEC-Q100 认证。MPS 还提供 PCB 布局、电路设计和元器件选型审核等技术支持,并在全球范围内设有现代化 EMC 实验室,可满足不同应用的测试和设计需求。
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